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CST-50冲击试样缺口投影仪

主机用途
性能特点
技术参数

CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器，与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高。是理化试验室的必备专用设备。

影屏： 200×200mm

放大倍数： 50X

光源： 12V 100W（卤钨灯）

电源： 220V 50Hz 150W

外型尺寸： 515×224×603mm

重量：约18Kg